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實驗檢測儀器
共面性測試儀
封裝性共面性測試儀
封裝性共面性測試儀在芯片制造過程中,芯片引腳扮演著連接內(nèi)部電路與外部電路的重要角色,相當于芯片的接口。然而在芯片制造過程中,如果引腳出現(xiàn)缺失、破損、偏斜或不平整,容易導致后續(xù)貼片焊接時出現(xiàn)虛焊、虛接或漏接的問題,進而影響芯片的可靠性。
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封裝性共面性測試儀工作原理
測量儀工作原理:被測工件(置于工作臺上)由LED表面光或輪廓光(在底座內(nèi))照明后,經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機罩殼內(nèi)攝取被測零件影像,再通過S端子傳送至計算機及顯示器上,軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準,對其進行瞄準測量,通過工作臺帶動光學尺與在X、Y方向上移動,取空間各點坐標值,由轉接卡至計算機,對測量坐標值進行幾何運算,完成各種數(shù)據(jù)量測工作。
封裝性共面性測試儀
本儀器采用測量軟件,能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀,1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪,成形銑刀等各種工具,刀具和零件,以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。
應用領域
本儀器采用測量軟件,能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀,1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪,成形銑刀等各種工具,刀具和零件,以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。
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